半導體低溫測輻射熱計

半導體低溫測輻射熱計圖 1 顯示了半導體低溫測輻射熱計的熱圖。由于偏置電路，電流i流過半導體。R是半導體本體的電阻（不要與動態(tài)電阻或微分電阻混淆），由于焦耳效應，它會消耗功率W。設備所處的環(huán)境會產(chǎn)生功率為W ...

分類：電子測量 時間：2023-08-25 閱讀：649 關鍵詞：輻射熱計