一、控制原理 多數(shù)通用變頻器都能實(shí)現(xiàn)不同的條件運(yùn)行不同的頻率。這在富士5000G11S/P11S系列變頻器中稱為多步頻率運(yùn)行，在ABBACS510-01系列變頻器中稱為恒速運(yùn)行。液位...
時(shí)間：2012-08-07 閱讀：3360 關(guān)鍵詞：用液位控制器控制變頻器工作頻率液位控制器變頻器延時(shí)控制
一、引言 惡劣條件下工作的集成電路(IC)不斷將越來越多的功能合并，這就需要改進(jìn)器件與電路設(shè)計(jì)策略，以便提升魯棒性，并盡可能縮減IC面積。由于受到更嚴(yán)格的設(shè)計(jì)、封裝...
時(shí)間：2012-08-01 閱讀：2933 關(guān)鍵詞：適合汽車級(jí)靜電放電應(yīng)用的雙向器件靜電放電電磁干擾雙向器件
IC外觀檢測(cè)常見要求：關(guān)鍵點(diǎn)：絲印、主體、管腳絲印要求：清晰、完整、正確、位置統(tǒng)一、字體規(guī)則、logo規(guī)范、模號(hào)及產(chǎn)地凹印、PIN1明顯主體要求：尺寸規(guī)范、裂痕、殘缺、刮傷、溢膠、變形、漏底材等符合標(biāo)準(zhǔn)管腳要求...
時(shí)間：2012-07-05 閱讀：6710 關(guān)鍵詞：IC外觀檢測(cè)，元器件外觀檢測(cè)常見要求AAA3A外觀檢測(cè)
高壓二極管的反向恢復(fù)時(shí)間測(cè)試系統(tǒng)
摘搖要：通過對(duì)二極管的反向恢復(fù)過程及相關(guān)應(yīng)用的研究，指出二極管反向恢復(fù)時(shí)間測(cè)試的必要性，綜合比較了三種現(xiàn)有的反向恢復(fù)時(shí)間的測(cè)試方法的優(yōu)缺點(diǎn)，提出并設(shè)計(jì)了一個(gè)測(cè)量...
時(shí)間：2012-03-15 閱讀：12394 關(guān)鍵詞：高壓二極管的反向恢復(fù)時(shí)間測(cè)試系統(tǒng)
現(xiàn)在的電子產(chǎn)品往往由于一塊集成電路損壞，導(dǎo)致一部分或幾個(gè)部分不能正常工作，影響設(shè)備的正常使用。那么如何檢測(cè)集成電路的好壞呢？通常一臺(tái)設(shè)備里面有許多個(gè)集成電路，當(dāng)拿到一部有故障的集成電路的設(shè)備時(shí)，首先要...
時(shí)間：2011-09-16 閱讀：6350 關(guān)鍵詞：集成電路故障檢測(cè)方法介紹集成電路
用于電容傳感器信號(hào)轉(zhuǎn)換的集成電路CAV424
精彩無限，盡在維庫技術(shù)資料 www.58mhw.cn/data 摘要：文中介紹了測(cè)量電容式傳感器電容的一般方法，并針對(duì)AMG公司開發(fā)的電容式信號(hào)轉(zhuǎn)換成電壓信號(hào)的集成電路CAV424 作了...
時(shí)間：2011-09-08 閱讀：4209 關(guān)鍵詞：用于電容傳感器信號(hào)轉(zhuǎn)換的集成電路CAV424電容傳感器
設(shè)計(jì)電子電路時(shí)除關(guān)心電路的主要性能指標(biāo)外，針對(duì)具體情況可能還會(huì)提出一些其它指標(biāo)。比如設(shè)計(jì)放大電路時(shí)，除了關(guān)注它的五種主要性能指標(biāo)（輸入電阻、輸出電阻、增益、頻率響應(yīng)和非線性失真系數(shù)）外，針對(duì)不同用途的...
時(shí)間：2011-09-08 閱讀：1850 關(guān)鍵詞：設(shè)計(jì)電子電路的性能指標(biāo)電子電路
自從美國(guó)Intel公司1971年設(shè)計(jì)制造出4位微處理器芯片以來，在20多年時(shí)間內(nèi)，CPU從Intel4004、80286、80386、80486發(fā)展到Pentium和PentiumⅡ，數(shù)位從4位、8位、16位、32位發(fā)展到64位；主頻從幾兆到今天的
時(shí)間：2011-09-01 閱讀：3569 關(guān)鍵詞：集成電路
1TTL電平：輸出高電平>2.4V,輸出低電平<0.4V。在室溫下，一般輸出高電平是3.5V，輸出低電平是0.2V。最小輸入高電平和低電平：輸入高電平>=2.0V，輸入低電平<=0.8V，噪聲容限是0.4V。2CMOS電平：
時(shí)間：2011-08-22 閱讀：1359 關(guān)鍵詞：TTL與CMOS相關(guān)知識(shí)TTL與CMOS
全世界的城鎮(zhèn)都在考慮和裝設(shè)LED街燈，以幫助節(jié)省電能，降低成本，保護(hù)環(huán)境，以及改善公民的照明條件。雖然有這種趨勢(shì)，但很少人注意這些燈的開關(guān)時(shí)間控制問題?！ ∏‘?dāng)?shù)?..
時(shí)間：2011-07-26 閱讀：7707 關(guān)鍵詞：控制燈光的開關(guān)電路開關(guān)電路
應(yīng)用于高速串行收發(fā)器的CDR電路的設(shè)計(jì)
摘要：時(shí)鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)（CDR）電路是高速數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)的重要組成部分。文章介紹了一種半數(shù)字二階時(shí)鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)電路的基本結(jié)構(gòu)、工作原理和設(shè)計(jì)方法，并進(jìn)行了仿真和驗(yàn)證，結(jié)果...
時(shí)間：2011-07-25 閱讀：14825 關(guān)鍵詞：應(yīng)用于高速串行收發(fā)器的CDR電路的設(shè)計(jì)
集成電路靜電放電模擬器校準(zhǔn)與測(cè)量不確定度
摘 要： 集成電路靜電放電模擬器是微電子元器件可靠性篩選的重要設(shè)備，通過模擬靜電放電對(duì)器件的抗靜電能力進(jìn)行篩選。本文在分析靜電放電模擬器工作原理的基礎(chǔ)上，利用高頻...
時(shí)間：2011-07-25 閱讀：10577 關(guān)鍵詞：集成電路靜電放電模擬器校準(zhǔn)與測(cè)量不確定度
眾所周知，傳統(tǒng)的IC設(shè)計(jì)流程通常以文本形式的說明開始，說明定義了芯片的功能和目標(biāo)性能。IC設(shè)計(jì)，Integrated Circuit Design，或稱為集成電路設(shè)計(jì)，是電子工程學(xué)和計(jì)算機(jī)...
時(shí)間：2011-07-22 閱讀：2453 關(guān)鍵詞：全新的深亞微米IC設(shè)計(jì)方法
美國(guó)國(guó)家半導(dǎo)體公司（National Semiconductor Corp.）（美國(guó)紐約證券交易所上市代碼：NSM）宣布推出兩款可配置的傳感器模擬前端（AFE）集成電路，兩款產(chǎn)品采用美國(guó)國(guó)家半導(dǎo)...
時(shí)間：2011-07-21 閱讀：7237 關(guān)鍵詞：NS 推出可配置的傳感器模擬前端（AFE）解決方案
光電耦合器廣泛應(yīng)用于可編程序控制器、變頻器、家用電器、工業(yè)生產(chǎn)等各個(gè)行業(yè)的電子裝置中，其作用眾所周知：信號(hào)的隔離、耦合傳輸，對(duì)電子裝置高壓系統(tǒng)電路發(fā)生故障，不會(huì)...
時(shí)間：2011-07-21 閱讀：9072 關(guān)鍵詞：簡(jiǎn)易光耦芯片測(cè)試電路TLP621TLP6214
