Tektronix 日前宣布，推出業(yè)界款適用于下一代行動記憶體技術JEDEC LPDDR4 的完整實體層和相容性測試解決方案。自2015年起將開始采用LPDDR4 ,而LPDDR4 是設立在目前的LPDDR3 技術上，并提供高達4.26 Gb/s的更好資料傳輸速率，并使用超低電壓，降低功耗約35%,有效提高了如智慧型手機、穿戴式裝置和平板電腦等行動裝置的效能。

　　由于僅有1.1V的低輸入/輸出電壓、較高的資料速率，以及限制存取測試點的精巧機械設計等特性，LPDDR4也導入了全新的測試和量測挑戰(zhàn)。在Vref、讀取資料組和寫入資料組中亦有多種變更，以執(zhí)行JESD209-4規(guī)格所規(guī)定的測試，這些變更則進一步增加了復雜性。Tektronix提供完整的工具組，能滿足設計工程師的需要，來確認其LPDDR4 設計是否合格。透過自動化設定和測試執(zhí)行，Tektronix解決方案可以明顯縮短測試周期，從一個星期 （或更長） 縮短為一個小時。

　　Tektronix高效能示波器總經(jīng)理Brian Reich表示：“毫無疑問，LPDDR4 將使驗證程式更加復雜，并讓整個行動記憶體生態(tài)系統(tǒng)充滿挑戰(zhàn)性，不論是晶片廠商或是系統(tǒng)整合商。我們提供所需要的測試和量測工具，有效地將這個令人期待的技術投入市場，從高效能示波器和探棒，到涵蓋整個記憶驗證連續(xù)性的進階分析軟體。”

　　Tektronix推出此解決方案后，現(xiàn)在可提供整合的實體層測試，并可在DDR-LP4分析軟體內(nèi)進行LPDDR4 標準的除錯作業(yè)。DDR-LP4 能自動化測試設定和執(zhí)行，使記憶體設計人員有信心能完全符合記憶體標準。若記憶體系統(tǒng)無法通過相容性測試，設計人員可以快速切換為除錯模式，并使用如Tektronix示波器上的強大可視觸發(fā)功能等工具來隔離感興趣的事件，以利用DPOJET抖動和眼狀圖量測工具套件進行更深層級的根源分析。

　　Tektronix還與合作夥伴Nexus Technology相結(jié)合，推出了首款LPDDR4 記憶體元件內(nèi)插器，具有兩個的內(nèi)插器設計。EdgeProbe 內(nèi)插器是專為行動設計要求苛刻的機械限制所設計，而插槽式內(nèi)插器也擁有易用性、可重用性和組件交換等功能。

　　具有LPDDR4 支援功能的選配DDR-LP4 現(xiàn)在已經(jīng)上市。